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Inspection, Measurement & Test 2007


Inspection, Measurement & Test 2007

NEC、電子線ホログラフィを応用して極浅接合を可視化 (2007.12.11)

AMAT、明視野検査装置「UVision 3」を発表 (2007.11.29)

2007年の顧客満足度で五つ星の半導体製造装置メーカー、VLSIが発表 (2007.11.28)

日本マイクロニクス、生産強化のため大分テクノロジーラボを増築 (2007.11.27)

産総研がスピン注入トルクの直接測定に成功、次世代MRAMの開発促進に期待 (2007.11.27)

レーザーテック、貫通電極エッチング深さ検査装置を発表 (2007.11.27)

STATS ChipPACが中国でのフリップチップ対応を強化 (2007.11.26)

AMAT、伊Bacciniの買収で単結晶Si太陽電池の事業を拡大 (2007.11.26)

レーザーテック、45nm以降に対応したパターン付きウェーハ反り/ストレス検査装置を発表 (2007.11.21)

HynixのChoi氏、「リソと後工程のコスト削減がカギ」 (2007.11.09)

ST、中国龍崗の後工程工場にて起工式を開催 (2007.11.08)

FormFactor、バーンインテスト用ワンタッチダウン対応300mmウェーハプローブを発表 (2007.11.07)

理化学研究所、高温超電導状態の電子波の可視化に成功 (2007.11.07)

日立製作所、強誘電体の分極構造を可視化するクーロン偏向STEM法を開発　 (2007.10.02)

ASEとNXP、中国に半導体組み立て/検査の合弁会社を設立　 (2007.10.02)

Keithley、1fAまで測定可能なI-V特性測定器などの販売を開始 (2007.09.25)

富士通研と富士通、はんだめっき中のPb分析手法を開発 (2007.09.18)

Silvaco、京都に技術サポートセンターを開設 (2007.09.13)

横河電機、DRAM量産用メモリーテスタの販売を開始 (2007.09.12)

アドバンテスト、北九州産業学術推進機構にSoCテストシステムを寄贈 (2007.04.23)

SIIナノテク、45nm対応のフォトマスク欠陥修正装置を発売 (2007.04.18)

KLA-TencorとClear Shape、 45nmの歩留まりの向上に向けて協業 (2007.04.17)

東芝、1nmの精度解析を実現したSSRM技術を開発 (2007.04.17)

アジレント、新型パラメトリックテスターを発表、 NAND型フラッシュへの対応を強化 (2007.04.09)

Agilent社、デバイスモデリング分野での拡大を目指す (2007.03.05)

テーピング包装済みIC製品の自動検査を可能にするX線検査装置 (2007.01.24)

アジレント、原子レベル分解能を有するAFMシステムの販売を開始 (2007.01.09)

SI Japan RESOURCE CENTER

アドバンスドエナジージャパン株式会社
金属材料のマグネトロンスパッタリングにおけるアーク抑制
JPN-ArcSputmetal-270-01.pdf
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